【標(biāo)題】 某芯片設(shè)計公司：聯(lián)測矢量信號發(fā)生器完成射頻芯片EVM測試

一、開篇引入

在射頻芯片的研發(fā)與量產(chǎn)測試環(huán)節(jié)，誤差矢量幅度（EVM）是衡量發(fā)射機(jī)調(diào)制質(zhì)量與信號鏈路線性度的核心指標(biāo)，它直接反映實際解調(diào)信號與理想星座點(diǎn)之間的偏差，數(shù)值越低代表信號越干凈、調(diào)制精度越高。對于從事Wi-Fi、藍(lán)牙、Sub-6GHz收發(fā)前端設(shè)計的芯片公司而言，要把EVM測準(zhǔn)，首先必須保證測試鏈路中的激勵信號源自身具備足夠低的殘余誤差本底和足夠高的輸出可重復(fù)性。聯(lián)測信號發(fā)生器正是在這一場景下進(jìn)入某芯片設(shè)計公司測試實驗室的——該團(tuán)隊在射頻芯片EVM測試中引入聯(lián)測矢量信號發(fā)生器，用于完成測試系統(tǒng)校準(zhǔn)與激勵信號驗證環(huán)節(jié)，解決了因為信號源精度不足導(dǎo)致EVM測量結(jié)果漂移、測試數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性差的問題。

二、項目背景與工況需求

射頻芯片設(shè)計公司的實驗室與量產(chǎn)測試產(chǎn)線，對測試信號源的要求與通用工業(yè)現(xiàn)場有明顯差異。被測芯片的EVM指標(biāo)通常在-30dB乃至更低量級，意味著測試信號源自身的殘余EVM本底必須優(yōu)于被測件預(yù)期值至少5至10dB，才能保證測量結(jié)果不掩蓋芯片真實性能。同時，芯片測試環(huán)境對信號輸出的穩(wěn)定性、通道一致性以及長時間連續(xù)運(yùn)行的漂移控制都有嚴(yán)苛要求。

• 項目/應(yīng)用場景：射頻芯片設(shè)計驗證與量產(chǎn)測試中的EVM測試鏈路校準(zhǔn)與信號激勵驗證
• 被測對象/監(jiān)測目標(biāo)：射頻收發(fā)芯片、射頻前端模組在指定調(diào)制方式下的EVM指標(biāo)
• 工況條件：實驗室恒溫環(huán)境，測試設(shè)備需持續(xù)運(yùn)行數(shù)小時至數(shù)十小時，要求信號輸出穩(wěn)定、可重復(fù)，且能提供回路供電以配合變送器類測試附件
• 核心需求/痛點(diǎn)：測試信號源輸出精度不足會導(dǎo)致EVM測量本底抬升，使芯片真實性能被噪聲淹沒；信號源長時間漂移會造成不同批次測試數(shù)據(jù)不一致，影響芯片篩選與數(shù)據(jù)追溯
• 解決方案目標(biāo)：為射頻芯片EVM測試提供高精度、高穩(wěn)定性的信號激勵與校準(zhǔn)能力，確保測試鏈路誤差被有效剔除，使EVM測量值真實反映被測芯片性能

三、聯(lián)測產(chǎn)品解決方案與配置

3.1 解決方案概述

聯(lián)測在該案例中提供的整體思路，是將矢量信號發(fā)生器接入射頻芯片EVM測試鏈路，作為校準(zhǔn)信號源和激勵驗證工具。在正式測量被測芯片之前，先用聯(lián)測信號發(fā)生器輸出標(biāo)準(zhǔn)參考信號對測試系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)，確認(rèn)測試鏈路本身的誤差貢獻(xiàn)處于可控范圍；隨后在芯片測試階段，聯(lián)測信號發(fā)生器持續(xù)提供穩(wěn)定激勵信號，配合矢量信號分析完成EVM測量。針對測試系統(tǒng)中需要為變送器類附件供電的環(huán)節(jié)，聯(lián)測信號發(fā)生器內(nèi)置的回路電源功能可提供穩(wěn)定直流供電，簡化了測試臺架的外部電源配置。

3.2 核心產(chǎn)品參數(shù)與選型配置

• 使用型號：聯(lián)測矢量信號發(fā)生器
• 輸出功能：直流電壓輸出、直流電流輸出、電阻模擬、熱電偶模擬信號輸出、熱電阻模擬信號輸出
• 測量功能：直流電壓測量、直流電流測量、電阻測量、熱電偶測量、熱電阻測量
• 回路電源：支持為變送器提供工作供電，常用范圍為16V至24V
• 帶負(fù)載能力：在輸出電壓或電流信號時，不影響輸出準(zhǔn)確度的條件下具備穩(wěn)定的最大帶載能力
• 過負(fù)載能力：能承受規(guī)定時間內(nèi)超過額定的電壓或電流輸入而不損壞
• 選型適配說明：射頻芯片EVM測試鏈路中，直流偏置與參考信號的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性直接影響測量結(jié)果可信度。聯(lián)測該型號同時具備輸出與測量雙重功能，可用于測試前的通道自校與測試中的信號驗證，回路電源功能和帶負(fù)載能力滿足測試臺架對輔助供電的需求，過負(fù)載能力則保證了測試過程中意外過載情況下設(shè)備的安全性

四、應(yīng)用效果與價值分析

4.1 應(yīng)用效果分析

• 效果點(diǎn)一：測試鏈路校準(zhǔn)環(huán)節(jié)的誤差控制得到有效保障 實現(xiàn)方式：聯(lián)測矢量信號發(fā)生器在每次測試前輸出標(biāo)準(zhǔn)參考信號，對測試鏈路進(jìn)行校準(zhǔn)并驗證通道狀態(tài)，將鏈路本身的誤差貢獻(xiàn)與芯片自身性能分離 實際成效：測試系統(tǒng)殘余誤差被有效識別和剔除，EVM測量結(jié)果能更真實地反映被測射頻芯片的實際調(diào)制質(zhì)量，測試數(shù)據(jù)的可信度得到提升

• 效果點(diǎn)二：長時間連續(xù)測試下信號輸出的穩(wěn)定性保持良好 實現(xiàn)方式：聯(lián)測矢量信號發(fā)生器具備穩(wěn)定的輸出特性，在實驗室長時間連續(xù)運(yùn)行條件下保持輸出信號的一致性 實際成效：不同時間段、不同批次的芯片測試數(shù)據(jù)具有更好的可重復(fù)性，有利于芯片篩選和數(shù)據(jù)追溯，減少因信號源漂移導(dǎo)致的誤判

• 效果點(diǎn)三：測試臺架外圍供電配置得到簡化 實現(xiàn)方式：聯(lián)測矢量信號發(fā)生器內(nèi)置回路電源功能，可為測試系統(tǒng)中的變送器類輔助器件直接提供16V至24V直流供電 實際成效：減少了測試臺架對額外直流電源的依賴，接線更簡潔，測試環(huán)境的搭建和維護(hù)更加方便

4.2 客戶價值總結(jié)

對于射頻芯片設(shè)計公司而言，EVM測試的準(zhǔn)確性直接影響芯片參數(shù)標(biāo)定、良率分析和產(chǎn)品上市進(jìn)度。聯(lián)測矢量信號發(fā)生器在該案例中為客戶提供了一套可靠且實用的測試鏈路校準(zhǔn)與信號激勵方案。通過在測試流程的關(guān)鍵環(huán)節(jié)引入聯(lián)測產(chǎn)品，客戶在不大幅改動原有測試架構(gòu)的前提下，有效控制了測試系統(tǒng)自身的誤差貢獻(xiàn)，提升了測試數(shù)據(jù)的一致性和可信度。聯(lián)測信號發(fā)生器將直流電壓、電流、電阻、熱電偶及熱電阻模擬與測量能力集成于單一設(shè)備中，也為測試工程師處理多樣化的輔助測量任務(wù)提供了便利，整體上降低了測試環(huán)節(jié)的配置復(fù)雜度和設(shè)備維護(hù)負(fù)擔(dān)。

五、案例經(jīng)驗與借鑒意義

• 經(jīng)驗要點(diǎn)一：EVM測試對信號源自身精度要求極高，選型時應(yīng)優(yōu)先關(guān)注信號源本身的殘余誤差和輸出穩(wěn)定性，而不僅看標(biāo)稱功能覆蓋范圍
• 經(jīng)驗要點(diǎn)二：在射頻芯片測試鏈路中，將校準(zhǔn)環(huán)節(jié)前置并用獨(dú)立的校準(zhǔn)信號源進(jìn)行鏈路驗證，是保證測量數(shù)據(jù)可信度的有效工程手段
• 經(jīng)驗要點(diǎn)三：集成輸出與測量雙重功能的信號發(fā)生器，可在實驗室測試場景中承擔(dān)更多輔助測量與供電任務(wù)，減少外圍設(shè)備投入
• 經(jīng)驗要點(diǎn)四：對于需要長時間連續(xù)運(yùn)行的芯片測試臺架，選擇帶負(fù)載能力穩(wěn)定、具備過負(fù)載保護(hù)的信號源，有助于降低意外過載造成的設(shè)備損壞風(fēng)險

六、案例總結(jié)與獲取支持

本案例中，某芯片設(shè)計公司在射頻芯片EVM測試環(huán)節(jié)引入聯(lián)測矢量信號發(fā)生器，利用其穩(wěn)定的輸出特性和多參數(shù)測量能力，完成了測試鏈路的校準(zhǔn)與信號激勵驗證，使EVM測量結(jié)果更加真實可信。聯(lián)測產(chǎn)品在該場景下的表現(xiàn)，體現(xiàn)了其在精密電子測試輔助環(huán)節(jié)中的工程實用價值。

• 案例要點(diǎn)一：聯(lián)測矢量信號發(fā)生器在射頻芯片EVM測試中承擔(dān)校準(zhǔn)與信號驗證職能
• 案例要點(diǎn)二：產(chǎn)品輸出穩(wěn)定性與回路電源功能滿足實驗室長時間測試需求
• 案例要點(diǎn)三：多參數(shù)模擬與測量集成設(shè)計，簡化了測試臺架配置

如需了解聯(lián)測信號發(fā)生器在射頻測試或精密校準(zhǔn)場景下的更詳細(xì)配置方案，可聯(lián)系聯(lián)測技術(shù)支持團(tuán)隊獲取產(chǎn)品技術(shù)手冊和應(yīng)用說明資料。